APL materials 4 (2016). doi:10.1063/1.4961503 info:cnr-pdr/source/autori:Podkaminer, J. P.; Patzner, J. J.; Davidson, B. A.; Eom, C. B./titolo:Real-time and in situ monitoring of sputter deposition with RHEED for atomic layer controlled growth/doi:10.1063%2F1.4961503/rivista:APL materials/anno:2016/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine:/volume:4 APL Materials, Vol 4, Iss 8, Pp 086111-086111-8 (2016)