International Conference on Space Optics--ICSO 2016, Biarritz, France, 18-21/10/2016 info:cnr-pdr/source/autori:Gambicorti, L.; Piazza, D.; Pommerol, A.; Roloff, V.; Gerber, M.; Ziethe, R.; El-Maarry, M. R.; Weigel, T.; Johnson, M.; Vernani, D.; Pelo, E.; Da Deppo, V.; Cremonese, G.; Ficai Veltroni, I.; Thomas, N./congresso_nome:International Conference on Space Optics--ICSO 2016/congresso_luogo:Biarritz, France/congresso_data:18-21%2F10%2F2016/anno:2017/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering 6266 (2006): 626616. doi:10.1117/12.672895 info:cnr-pdr/source/autori:Spiga D., Mirone A., Pareschi G., Canestrari R., Cotroneo V., Ferrari C., Ferrero C., Lazzarini L., Vernani D./titolo:Characterization of multilayer stack parameters from x-ray reflectivity data using the PPM program: measurements and comparison with TEM results/doi:10.1117%2F12.672895/rivista:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/anno:2006/pagina_da:626616/pagina_a:/intervallo_pagine:626616/volume:6266