단결정 Bi 단일 나노선의 정상 자기 저항(ordinary magnetoresistance) 특성을 2~300 K에서 4 단자법으로 측정하였다. I-V 측정을 통해 전기적 오믹 형성을 확인하였고, 2 K과 300 K에서 비저항이 각각 1.0×10?⁴와 8.2×10??Ωㆍ㎝으로 측정되었다. 수직(transverse) 및 수평(longitudinal) 자기저항비(MR ratio)가 110 K와 2 K에서 각각 현재까지 보고된 MR 중 가장 큰 2496 %와 ?38 %으로 관찰되었으며, 이 결과는 자발 성장법으로 성장된 Bi 나노선의 결정성이 매우 우수한 단결정임을 증명한다. simple two band(STB) 모델을 통해 Bi 나노선의 수직 및 수평 정상 자기 저항(OMR) 거동이 온도에 따른 페르미 준위(Fermi level)와 밴드 겹침(band overlap)등의 전자 구조 변화 및 운반자 농도 변화로 잘 설명된다.
We report the magneto-transport properties of an individual single crystalline Bi nanowire grown by a spontaneous growth method. We have successfully fabricated a four-terminal device based on an individual 400-㎚-diameter nanowire using plasma etching technique to remove an oxide layer forming on the outer surface of the nanowire. The transverse MR (2496% at 110 K) and longitudinal MR ratios (38% at 2 K) for the Bi nanowire were found to be the largest known values in Bi nanowires. This result demonstrates that the Bi nanowires grown by the spontaneous growth method are the highest-quality single crystalline in the literatures ever reported. We find that temperature dependence of Fermi energy (EF) and band overlap (??) leads to the imbalance between electron concentration (ne) and hole concentration (nh) in the Bi nanowire, which is good agreement with the calculated ne and nh from the respective density of states, N(E), for electrons and holes. We also find that the imbalance of ne and nh plays a crucial role in determining magnetoresistance (MR) at T < 75K for RT and at T < 205K for RL, while mean-free path is responsible for MR at T > 75K for RT and T > 205K for RL.