Inelastic X-ray Scattering Measurements of Phonon Spectral Line-width in Bulk SiGe / X線非弾性散乱法によるBulk SiGeフォノンスペクトルの線幅測定
- Resource Type
- Journal Article
- Source
- JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2021, :3024
- Subject
17a-Z29-9 Inelastic X-ray Scattering Phonon SiGe X線非弾性散乱 フォノン 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」 熱伝導・フォノン輸送 - Language
- Japanese
- ISSN
- 2436-7613