Interaction between adjacent twin Si4 atom switches / 隣接するSi4原子スイッチの相互作用
- Resource Type
- Journal Article
- Source
- JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2017, :1583
- Subject
14p-414-15 Atom Switch Atomic Force Microscopy Scanning Probe Microscopy プローブ顕微鏡 原子スイッチ 原子・分子操作など 原子間力顕微鏡 薄膜・表面 走査トンネル顕微鏡 - Language
- Japanese
- ISSN
- 2436-7613