Optimal Gaussian Metrology for Generic Multi-Mode Linear Circuit / ガウス型状態による線形光学回路の量子計測
- Resource Type
- Journal Article
- Source
- Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2017, :695
- Subject
光子統計・スクイジング 量子エレクトロニクス(理論) 量子情報 量子測定 - Language
- Japanese
- ISSN
- 2189-0803