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1 . Conference
Behavioral-modeling methodology to predict Electrostatic-Discharge susceptibility failures at system level: An IBIS improvement
저자
by
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Nolhier, N.
;
Tremouilles, D.
;
Bafleur, M.
.
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10th International Symposium on Electromagnetic Compatibility EMC Europe 2011 York. :457-463 Sep, 2011
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RefWorks
7 . Conference
ESD system level characterization and modeling methods applied to a LIN transceiver
저자
by
Besse, P.
;
Lafon, F.
;
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Laine, J. P.
, et al.
소스
EOS/ESD Symposium Proceedings Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2011 33rd. :1-9 Sep, 2011
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RefWorks
7 . Academic Journal
A System-Level Electrostatic-Discharge-Protection Modeling Methodology for Time-Domain Analysis
저자
by
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Tremouilles, D.
;
Nolhier, N.
;
Bafleur, M.
.
소스
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility IEEE Trans. Electromagn. Compat. Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on. 55(1):45-57 Feb, 2013
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RefWorks
7 . Academic Journal
Investigation of Modeling System ESD Failure and Probability Using IBIS ESD Models
저자
by
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Nolhier, N.
;
Bafleur, M.
;
Tremouilles, D.
.
소스
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 12(4):599-606 Dec, 2012
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RefWorks
7 . Academic Journal
An Accelerated Stress Test Method for Electrostatically Driven MEMS Devices
저자
by
Ruan, J. J.
;
Monnereau, N.
;
Tremouilles, D.
;
Mauran, N.
;
Coccetti, F.
, et al.
소스
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 61(2):456-461 Feb, 2012
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7 . Academic Journal
Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation
저자
by
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Trémouilles, D.
;
Nolhier, N.
;
Bafleur, M.
.
소스
Microelectronics Reliability
. Feb2013, Vol. 53 Issue 2, p221-228. 8p.
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RefWorks
7 . Conference
Investigating the probability of susceptibility failure within ESD system level consideration.
저자
by
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Nolhier, N.
;
Tremouilles, D.
;
Bafleur, M.
.
소스
2011 33rd NO POD PERMISSION Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD); 2011, p1-6, 6p
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7 . Conference
Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation.
저자
by
Monnereau, N.
;
Caignet, F.
;
Tremouilles, D.
.
소스
2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD); 2010, p1-10, 10p
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