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1 . Conference
Test Methodology using Parametric Measurement Unit for Automated Test Equipment Systems with 600MHz High Speed DCL
저자
by
In-Seok Jung
;
Yong-Bin Kim
;
Kyung Ki Kim
.
소스
한국산업정보학회 학술대회논문집
. 2014-01 2014(1):17-19
Full Text (DBPIA)
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RefWorks
5 . Conference
A design and integration of Parametric Measurement Unit on to a 600MHz DCL
저자
by
Collins, Edward
;
In-Seok Jung
;
Yong-Bin Kim
;
Kyung Ki Kim
.
소스
2012 International SoC Design Conference (ISOCC) SoC Design Conference (ISOCC), 2012 International. :435-438 Nov, 2012
Full Text (IEEE)
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RefWorks
6 . Conference
Single poly EEPROM with N-well and stacked MIM capacitor for control gate
저자
by
Zhi-Yuan Cui
;
Guk-Hwan Kim
;
In-Seok Jung
;
Byeong-Seong So
;
Hyung-Gyoo Lee
, et al.
소스
2007 International Semiconductor Device Research Symposium Semiconductor Device Research Symposium, 2007 International. :1-2 Dec, 2007
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 . Conference
Application of a switch-type comparator in 4-b flash ADC
저자
by
Zhi-Yuan Cui
;
Byeong-Seong So
;
In-Seok Jung
;
Hyung-Gyoo Lee
;
Nam-Soo Kim
.
소스
2007 International Semiconductor Device Research Symposium Semiconductor Device Research Symposium, 2007 International. :1-2 Dec, 2007
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 .
A Novel Built-in Self Calibration Technique to Minimize Capacitor Mismatch for 12-bit 32MS/s SAR ADC
저자
by
Yong-Bin Kim
;
Kyung Ki Kim
;
In-Seok Jung
.
소스
Journal of Integrated Circuits and Systems
. 10:187-200
Open Access (OpenAIRE)
Scopus
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RefWorks
5 . Conference
The novel Switched-Capacitor DC-DC converter for fast response time and reduced ripple.
저자
by
In-Seok Jung
;
Yong-Bin Kim
;
Minsu Choi
.
소스
2011 IEEE 54th International Midwest Symposium on Circuits & Systems (MWSCAS); 2011, p1-4, 4p
Full Text (IEEE)
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RefWorks
5 .
Accurate and Efficient On-Chip Spectral Analysis for Built-In Testing and Calibration Approaches
저자
by
Yong-Bin Kim
;
Marvin Onabajo
;
Yongsuk Choi
;
Hari Chauhan
;
In-Seok Jung
.
소스
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
. 22:497-506
Full Text (IEEE)
Web of Science
Scopus
JCR 저널정보
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RefWorks
7 .
Cost Effective Test Methodology Using PMU for Automated Test Equipment Systems
저자
by
Yong-Bin Kim
;
Kyung Ki Kim
;
In-Seok Jung
.
소스
International Journal of VLSI Design & Communication Systems
. 5:15-27
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
5 .
A 100MS/s 10-bit Split-SAR ADC with Capacitor Mismatch Compensation Using Built-In Calibration
저자
by
In-Seok Jung
;
Yongsuk Choi
;
Yong-Bin Kim
.
소스
NATW
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RefWorks
5 .
A CMOS Low-Power Digital Polar Modulator System Integration for WCDMA Transmitter
저자
by
Yong-Bin Kim
;
In-Seok Jung
.
소스
IEEE Transactions on Industrial Electronics
. 59:1154-1160
Full Text (IEEE)
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