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1 . Conference
Rapid Growth of SiO2 on SiC with Low Ditusing High Pressure Microwave Oxygen Plasma
저자
by
Wang, Shengkai
;
Hao, Jilong
;
You, Nannan
;
Bai, Yun
;
Liu, Xinyu
.
소스
2019 IEEE 13th International Conference on ASIC (ASICON) ASIC (ASICON), 2019 IEEE 13th International Conference on. :1-4 Oct, 2019
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RefWorks
7 . Academic Journal
Efficacy and Safety of Biosimilar QL1207 vs. the Reference Aflibercept for Patients with Neovascular Age-Related Macular Degeneration: A Randomized Phase 3 Trial
저자
by
Li, Bing
;
Fan, Ke
;
Zhang, Tonghe
;
Wu, Zhifeng
;
Zeng, Siming
, et al.
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Ophthalmology and Therapy
. 13(1):353-366
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RefWorks
7 . Periodical
Analysis of Gate Oxide Degradation Induced by Heavy Ion in SiC Power MOSFETs
저자
by
Qiu, Leshan
;
Bai, Yun
;
Ding, Jieqin
;
Hao, Jilong
;
Tang, Yidan
, et al.
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IEEE Transactions on Electron Devices; 2024, Vol. 71 Issue: 4 p2524-2529, 6p
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7 . Conference
The Characteristics and Modeling of 600V and 1200V SiC Power MOSFET
저자
by
Chen, Hong
;
Hao, Jilong
;
Zhou, QianFei
;
Feng, Qi
;
Bai, Yun
.
소스
2018 14th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2018 14th IEEE International Conference on. :1-3 Oct, 2018
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RefWorks
7 . Academic Journal
Heavy Ion Induced Degradation Investigation on 4H-SiC JBS Diode with Different P+ Intervals.
저자
by
Wu, Zhikang
;
Bai, Yun
;
Yang, Chengyue
;
Li, Chengzhan
;
Hao, Jilong
, et al.
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Electronics (2079-9292); May2023, Vol. 12 Issue 9, p2133, 13p
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7 . Academic Journal
Effect of Intense Pulsed Light to Mitigate Meibomian Gland Dysfunction for Dry Eye Disease.
저자
by
Suwal, Abhishek
;
Hao, Jilong
;
Liu, Xiufen
;
Zhou, Dandan
;
Jia, Zhifang
, et al.
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Klinische Monatsblätter für Augenheilkunde; Feb2023, Vol. 240 Issue 2, p163-168, 6p
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RefWorks
7 . Academic Journal
Bias Temperature Instability of 4H-SiC p- and n-Channel MOSFETs Induced by Negative Stress at 200 °C.
저자
by
Yang, Liao
;
Bai, Yun
;
Li, Chengzhan
;
Chen, Hong
;
Tang, Yidan
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices
. Jun2022, Vol. 69 Issue 6, p3042-3046. 5p.
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RefWorks
7 . Academic Journal
Analysis of Transient Surge Current Mechanism in SiC MPS Diode With the Transition Region.
저자
by
Wang, Antao
;
Bai, Yun
;
Tang, Yidan
;
Li, Chengzhan
;
Han, Zhonglin
, et al.
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IEEE Transactions on Electron Devices
. Dec2021, Vol. 68 Issue 12, p6330-6337. 8p.
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RefWorks
7 . Periodical
Gate Oxide Instability of 4H-SiC p-Channel MOSFET Induced by AC Stress at 200 °C
저자
by
Yang, Liao
;
Bai, Yun
;
Li, Chengzhan
;
Yang, Chengyue
;
Chen, Hong
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices; January 2023, Vol. 70 Issue: 1 p379-382, 4p
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7 . Periodical
Impact of Post-Trench Process Treatment on Electron Scattering Mechanisms in 4H-SiC Trench MOSFETs
저자
by
Dong, Zewei
;
Bai, Yun
;
Yang, Chengyue
;
Li, Chengzhan
;
Tang, Yidan
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices; 2023, Vol. 70 Issue: 4 p1782-1788, 7p
Full Text (IEEE)
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