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1 . Conference
High-coverage analog IP block test generation methodology using low-cost signal generation and output response analysis
저자
by
Gomez, Jhon
;
Xama, Nektar
;
Coyette, Anthony
;
Vanhooren, Ronny
;
Dobbelaere, Wim
, et al.
소스
2023 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2023 IEEE. :1-4 May, 2023
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RefWorks
7 . Conference
Quick Analyses for Improving Reliability and Functional Safety of Mixed-Signal ICs
저자
by
Sunter, Stephen
;
Wolinski, Michal
;
Coyette, Anthony
;
Vanhooren, Ronny
;
Dobbelaere, Wim
, et al.
소스
2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-10 Nov, 2020
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RefWorks
7 . Academic Journal
Automatic generation of test infrastructures for analog integrated circuits by controllability and observability co-optimization
저자
by
Coyette, Anthony
;
Esen, Baris
;
Dobbelaere, Wim
;
Vanhooren, Ronny
;
Gielen, Georges
.
소스
In
Integration, the VLSI Journal
September 2016 55:393-400
Full Text (ScienceDirect)
Web of Science
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RefWorks
7 . Conference
Latent Defect Screening with Visually-Enhanced Dynamic Part Average Testing
저자
by
Coyette, Anthony
;
Dobbelaere, Wim
;
Vanhooren, Ronny
;
Xama, Nektar
;
Gomez, Jhon
, et al.
소스
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2020 IEEE. :1-6 May, 2020
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RefWorks
7 . Conference
Avoiding Mixed-Signal Field Returns by Outlier Detection of Hard-to-Detect Defects based on Multivariate Statistics
저자
by
Xama, Nektar
;
Raymaekers, Jakob
;
Andraud, Martin
;
Gomez, Jhon
;
Dobbelaere, Wim
, et al.
소스
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2020 IEEE. :1-6 May, 2020
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RefWorks
7 . Conference
Pinhole Latent Defect Modeling and Simulation for Defect-Oriented Analog/Mixed-Signal Testing
저자
by
Gomez, Jhon
;
Xama, Nektar
;
Coyette, Anthony
;
Vanhooren, Ronny
;
Dobbelaere, Wim
, et al.
소스
2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) VLSI Test Symposium (VTS), 2020 IEEE 38th. :1-6 Apr, 2020
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RefWorks
7 . Conference
Applying Vstress and defect activation coverage to produce zero-defect mixed-signal automotive ICs
저자
by
Dobbelaere, Wim
;
Colle, Frederik
;
Coyette, Anthony
;
Vanhooren, Ronny
;
Xama, Nektar
, et al.
소스
2019 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2019 IEEE International. :1-4 Nov, 2019
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RefWorks
7 . Periodical
Boosting Latent Defect Coverage in Automotive Mixed-Signal ICs Using SVM Classifiers
저자
by
Xama, Nektar
;
Gomez, Jhon
;
Dobbelaere, Wim
;
Vanhooren, Ronny
;
Coyette, Anthony
, et al.
소스
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems; October 2023, Vol. 42 Issue: 10 p3426-3435, 10p
Full Text (IEEE)
Web of Science
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RefWorks
7 . Conference
Methodology Towards Sub-ppm Testing of Analog and Mixed-Signal ICs for Cyber-Physical Systems
저자
by
Gielen, Georges
;
Esen, Baris
;
Dobbelaer, Wim
;
Vanhooren, Ronny
;
Coyette, Anthony
, et al.
소스
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) Circuits and Systems (ISCAS), 2018 IEEE International Symposium on. :1-4 May, 2018
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 . Conference
Non-intrusive detection of defects in mixed-signal integrated circuits using light activation
저자
by
Esen, Baris
;
Coyette, Anthony
;
Xama, Nektar
;
Dobbelaere, Wim
;
Vanhooren, Ronny
, et al.
소스
2017 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2017 IEEE International. :1-7 Oct, 2017
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