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1 . Academic Journal
Single event burnout failures caused in silicon and silicon carbide power devices by single alpha particles emitted from radioactive nuclides
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by
Pocaterra, Marco
;
Ciappa, Mauro
.
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In
Microelectronics Reliability
November 2023 150
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4 . Academic Journal
Single event burnout failures caused in silicon carbide power devices by alpha particles emitted from radionuclides
저자
by
Pocaterra, Marco
;
Ciappa, Mauro
.
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In
e-Prime - Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy
September 2023 5
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4 . Academic Journal
TCAD investigation of the transport of carriers deposited by alpha particles in silicon carbide power Schottky devices
저자
by
Pocaterra, Marco
;
Ciappa, Mauro
.
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In
Microelectronics Reliability
November 2021 126
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4 . Academic Journal
On the use of soft gamma radiation to characterize the pre-breakdown carrier multiplication in SiC power MOSFETs and its correlation to the TCR failure rate as measured by neutron irradiation
저자
by
Ciappa, Mauro
;
Pocaterra, Marco
.
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In
Microelectronics Reliability
November 2020 114
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4 . Academic Journal
Experimental setup to monitor non-destructive single events triggered by ionizing radiation in power devices
저자
by
Pocaterra, Marco
;
Ciappa, Mauro
.
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In
Microelectronics Reliability
November 2020 114
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4 . Academic Journal
Characterization of the onset of carrier multiplication in power devices by a collimated radioactive alpha source
저자
by
Ciappa, Mauro
;
Pocaterra, Marco
.
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In
Microelectronics Reliability
September 2019 100-101
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4 . Academic Journal
On the use of cosmic muons to assess the local attenuation of terrestrial cosmic neutrons in real-time SEB testing of power devices
저자
by
Ciappa, Mauro
;
Pocaterra, Marco
.
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In
Microelectronics Reliability
September 2019 100-101
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4 . Academic Journal
Charge and energy deposition in thick silicon depletion layers by environmental ionizing radiation and terrestrial cosmic rays
저자
by
Pang, Ying
;
Ciappa, Mauro
.
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In
Microelectronics Reliability
September 2018 88-90:992-997
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4 . Academic Journal
Experimental characterization of critical high-electric field spots in power semiconductors by planar and scanning collimated alpha sources
저자
by
Ciappa, Mauro
;
Pang, Ying
;
Sun, Chenchen
.
소스
In
Microelectronics Reliability
September 2018 88-90:476-481
Full Text (ScienceDirect)
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5 . Academic Journal
Reliability investigation of the copper-zinc system for solid diffusion bonding in power modules
저자
by
Dugal, Franc
;
Ciappa, Mauro
.
소스
In
Microelectronics Reliability
September 2017 76-77:460-464
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