공지
2024-1학기 도서관 프로그램 안내
원문복사 상호대차 이용안내
북 갤러리 독서프로그램(북며들기)안내
2024학년도 1학기 도서관 이용안내
해외 전자책 신청 안내
이전
다음
오늘 하루 닫기
공지사항 닫기
DAU Library
중앙도서관
동아대학교
로그인
교외접속
OFF
ENG
검색창 열기
검색"
자료검색
통합검색
소장자료
학술논문
전자저널
학술DB
온라인 강좌
e-Learning
INSPIRE
KOCW
해외OCW/MOOC 리스트
전자책
컬렉션
신착도서
인기도서
추천도서
청춘의 책탑
북 카드뉴스
연구도서
연구학습지원
학술지평가정보
학과별 주제 가이드
표절예방/연구윤리
참고문헌 관리
학위논문 제출
원문복사/상호대차
신청 안내
의학, 간호학 학술지 신청
의학, 간호학 학위논문 신청
신청 현황 조회
이용교육
이용교육 안내
이용교육 신청
그룹교육 신청
도서관 서비스
자료 이용
대출/재대출/반납
캠퍼스간 대출
희망도서 신청
보존서고자료 신청
우선정리 신청
시설 이용
그룹스터디실 이용
열람실 이용
타기관 이용(자료열람)
타기관 이용(자료열람) 가이드
타기관 이용(자료열람) 신청
타교 자료열람 신청 조회
타기관 이용(열람실 이용)
타기관 이용(열람실 이용) 가이드
타기관 이용(열람실 이용) 신청
타기관 이용(열람실 이용) 조회
이용자별 서비스
학부생
대학원생
교직원
특별회원
기타
모바일 서비스
모바일 홈페이지
모바일 좌석배정
모바일 이용증
무선랜 안내
교외접속 서비스
서비스 찾기
도서관 안내
도서관 소개
개요
도서관 연혁
도서관 현황
규정
조직도 및 구성원
도서관 이용시간
층별 안내
자료 기증
기증 안내
기증자 목록
사이버 기증 문고
찾아오시는 길
커뮤니티
공지사항(일반)
공지사항(학술DB)
Q&A
Q&A
FAQ
서평쓰기
동아인 우수서평
행사 후기
각종 서식자료
홈페이지 오류문의
My Library
대출/재대출/예약 조회
대출 및 재대출
대출 기록
캠퍼스간 대출 기록
신청자료 조회
희망도서 신청 조회
보존서고자료 신청 조회
우선정리 신청 조회
서가부재도서 신청 조회
원문복사 신청 조회
그룹스터디실 신청 조회
이용교육 신청 조회
타기관 이용 조회
타교 자료열람 신청 조회
타교 열람실 신청 조회
내 서재
나의 서평
개인정보관리
개인정보관리
개인공지사항
자주 찾는 메뉴
대출 및 재대출
내 서재
FAQ
홈페이지 오류문의
메뉴 전체보기
학술논문
Home
>
자료검색
>
학술논문
>
통합검색
소장자료
학술논문
전자저널
전체
ISSN
논문 제목
저널명
저자
발행년도
-
(예 : 2010-2015)
'
학술논문
' 에서의 검색결과
17
건 | 목록
1~10
전체선택
Relevance
Date Newest
Date Oldest
5
10
20
30
40
50
E-Mail
EndNote
RefWorks
1 . Conference
Automatic Classification of C-SAM Voids for Root Cause Identification of Bonding Yield Degradation
저자
by
Baderot, Julien
;
Garrais, Solange
;
Martinez, Sergio
;
Foucher, Johann
;
Eto, Ryuji
, et al.
소스
2022 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) Semiconductor Manufacturing (ISSM), 2022 International Symposium on. :1-4 Dec, 2022
Full Text (IEEE)
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Conference
Tree of Shapes Cut for Material Segmentation Guided by a Design
저자
by
Baderot, Julien
;
Desvignes, Michel
;
Condat, Laurent
;
Mura, Mauro Dalla
.
소스
ICASSP 2020 - 2020 IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP) Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP), ICASSP 2020 - 2020 IEEE International Conference on. :2593-2597 May, 2020
Full Text (IEEE)
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
6 . Academic Journal
Automatic Classification of C-SAM Voids for Root Cause Identification of Bonding Yield Degradation.
저자
by
Baderot, Julien
;
Garrais, Solange
;
Martinez, Sergio
;
Foucher, Johann
;
Eto, Ryuji
, et al.
소스
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
. Nov2023, Vol. 36 Issue 4, p537-542. 6p.
Full Text (IEEE)
Scopus
Web of Science
JCR 저널정보
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Periodical
Semi-automatic tools for nanoscale metrology and annotations for deep learning automation on electron microscopy images
저자
by
Jovančević, Igor
;
Orteu, Jean-José
;
Sanou, Isaac Wilfried
;
Baderot, Julien
;
Benezeth, Yannick
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; July 2023, Vol. 12749 Issue: 1 p127490D-127490D-8, 1147419p
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Periodical
A generic deep-learning-based defect segmentation model for electron micrographs for automatic defect inspection
저자
by
Robinson, John C.
;
Sendelbach, Matthew J.
;
Jacob, Martin
;
Hallal, Ali
;
Baderot, Julien
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12496 Issue: 1 p124962T-124962T-8, 1124667p
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Periodical
Edge detection using deep learning pipelines for TEM and SEM metrology by proposing generic and specific approaches
저자
by
Robinson, John C.
;
Sendelbach, Matthew J.
;
Loza, Edgar
;
Baderot, Julien
;
Grould, Marion
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12496 Issue: 1 p124962P-124962P-14, 12371253p
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Conference
Semi-automatic tools for nanoscale metrology and annotations for deep learning automation on electron microscopy images.
저자
by
Sanou, Isaac Wilfried
;
Baderot, Julien
;
Benezeth, Yannick
;
Bricq, Stéphanie
;
Marzani, Franck
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; 12/18/2023, Vol. 12749, p127490D-127490D-8, 1p
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Periodical
Deep learning aided tool for fast and accurate segmentation of multi-part semiconductor features
저자
by
Sendelbach, Matthew J.
;
Schuch, Nivea G.
;
Sanou, Isaac Wilfried
;
Baderot, Julien
;
Hallal, Ali
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12955 Issue: 1 p1295523-1295523-13
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Periodical
Application of machine learning-based metrology for writer main pole CD measurement by CDSEM
저자
by
Robinson, John C.
;
Sendelbach, Matthew J.
;
Yang, Yuan
;
Ngo, Anhhuy
;
Wang, Mingmin
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; May 2022, Vol. 12053 Issue: 1 p120531R-120531R-14, 11932584p
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
7 . Periodical
Introducing machine learning-based application for writer main pole CD metrology by dual beam FIB/SEM
저자
by
Adan, Ofer
;
Robinson, John C.
;
Zandiatashbar, Ardavan
;
Ngo, Anhhuy
;
Chien, Chester
, et al.
소스
Proceedings of SPIE; February 2021, Vol. 11611 Issue: 1 p116112V-116112V-12, 11495101p
Find it @ DONGA
요약보기
내보내기
E-Mail
EndNote
RefWorks
1
2
다음
메일 발송
로그인후 이용해주세요.
이동하기
전체 메뉴 보기
전체메뉴 닫기
자료검색
통합검색
소장자료
학술논문
전자저널
학술DB
온라인 강좌
e-Learning
INSPIRE
KOCW
해외OCW/MOOC 리스트
전자책
컬렉션
신착도서
인기도서
추천도서
청춘의 책탑
북 카드뉴스
연구도서
연구학습지원
학술지평가정보
학과별 주제 가이드
표절예방/연구윤리
참고문헌 관리
학위논문 제출
원문복사/상호대차
신청 안내
의학, 간호학 학술지 신청
의학, 간호학 학위논문 신청
신청 현황 조회
이용교육
이용교육 안내
이용교육 신청
그룹교육 신청
도서관 서비스
자료 이용
대출/재대출/반납
캠퍼스간 대출
희망도서 신청
보존서고자료 신청
우선정리 신청
시설 이용
그룹스터디실 이용
열람실 이용
타기관 이용(자료열람)
타기관 이용(자료열람) 가이드
타기관 이용(자료열람) 신청
타교 자료열람 신청 조회
타기관 이용(열람실 이용)
타기관 이용(열람실 이용) 가이드
타기관 이용(열람실 이용) 신청
타기관 이용(열람실 이용) 조회
이용자별 서비스
학부생
대학원생
교직원
특별회원
기타
모바일 서비스
모바일 홈페이지
모바일 좌석배정
모바일 이용증
무선랜 안내
교외접속 서비스
서비스 찾기
도서관 안내
도서관 소개
개요
도서관 연혁
도서관 현황
규정
조직도 및 구성원
도서관 이용시간
층별 안내
자료 기증
기증 안내
기증자 목록
사이버 기증 문고
찾아오시는 길
커뮤니티
공지사항(일반)
공지사항(학술DB)
Q&A
Q&A
FAQ
서평쓰기
동아인 우수서평
행사 후기
각종 서식자료
홈페이지 오류문의
My Library
대출/재대출/예약 조회
대출 및 재대출
대출 기록
캠퍼스간 대출 기록
신청자료 조회
희망도서 신청 조회
보존서고자료 신청 조회
우선정리 신청 조회
서가부재도서 신청 조회
원문복사 신청 조회
그룹스터디실 신청 조회
이용교육 신청 조회
타기관 이용 조회
타교 자료열람 신청 조회
타교 열람실 신청 조회
내 서재
나의 서평
개인정보관리
개인정보관리
개인공지사항