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1 . Academic Journal
Fine Structure for Secondary Electron Spectra Excited by Electron Beam Intensity of Secondary Electrons with Low Energy Region Less Than Several Tens eV for Elemental Solids and the Compound / 電子励起の二次電子スペクトルの微細構造 元素および化合物における数10eV以下の二次電子強度
저자
by
Keisuke Goto
;
Satoshi Hashimoto
;
Tsuguo Sakurada
;
後藤 敬典
;
橋本 哲
, et al.
소스
Journal of Surface Analysis. 2022, 28(3):161
Open Access (JSTAGE)
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7 . Academic Journal
Identification and Visualization of Fine Precipitates in a Cr–Mo Steel Based on SEM Contrast
저자
by
Kaoru Sato
;
Kenji Ogata
;
Masayasu Nagoshi
;
Takaya Nakamura
;
Tsuguo Sakurada
, et al.
소스
MATERIALS TRANSACTIONS. 2019, 60(8):1591
Web of Science
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RefWorks
7 . Academic Journal
Identification and Visualization of Fine Precipitates in a Cr-Mo Steel Using SEM Contrasts / SEMの像コントラストを活用したCr-Mo鋼中微細析出物の同定と相別分布の可視化
저자
by
Kaoru Sato
;
Kenji Ogata
;
Masayasu Nagoshi
;
Takaya Nakamura
;
Tsuguo Sakurada
, et al.
소스
まてりあ / Materia Japan. 2019, 58(2):85
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RefWorks
7 . Academic Journal
Fine structure of spectrum of secondary electron, 5: metals and their compounds
저자
by
Keisuke Goto
;
Satoshi Hashimoto
;
Shigeo Tanuma
;
Takaharu Nagatomi
;
Tsuguo Sakurada
.
소스
Journal of Surface Analysis. 2019, 26(2):186
Open Access (JSTAGE)
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7 . Academic Journal
Analyses of grinding-induced strain distribution and microstructure in SiC wafer by combining EBSD-Wilkinson and TEM techniques / EBSD-TEMによるウェハ研削加工起因の歪み分布及び微細構造解析
저자
by
Genta Maruyama
;
Hajime Okumura
;
Junji Senzaki
;
Kazutoshi Kojima
;
Satoshi Hashimoto
, et al.
소스
JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2017, :3500
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
7 . Academic Journal
Identification and Visualization of Fine Precipitates in a Cr-Mo Steel Using SEM Contrasts / SEMの像コントラストを活用したCr-Mo鋼中微細析出物の同定と相別分布の可視化
저자
by
Kaoru Sato
;
Kenji Ogata
;
Masayasu Nagoshi
;
Takaya Nakamura
;
Tsuguo Sakurada
, et al.
소스
日本金属学会誌 / Journal of the Japan Institute of Metals and Materials. 2018, 82(5):169
Open Access (JSTAGE)
Web of Science
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RefWorks
7 . Academic Journal
Fine structure of spectrum of secondary electron, 3: single crystalline Al and Cu / 二次電子スペクトルの微細構造 その3:単結晶AlとCu
저자
by
Keisuke Goto
;
Satoshi Hashimoto
;
Shigeo Tanuma
;
Takaharu Nagatomi
;
Tsuguo Sakurada
, et al.
소스
Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan. 2018, :11
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RefWorks
7 . Academic Journal
EBSD-Wilkinson法によるSiCウェハ加工変質層の局所歪み解析 / Local Strain Analysis of Surface Damaged Layers in SiC Wafer by EBSD-Wilkinson Technique
저자
by
Junji Senzaki
;
Kazutoshi Kojima
;
Satoshi Hashimoto
;
Susumu Tsukimoto
;
Tatsuhiko Ise
, et al.
소스
JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2016, :3546
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
7 . Academic Journal
Advanced Microbeam Analysis for Characterizing Structure of Surface and Interface for Various Material / 材料表面・界面の構造を明らかにする新しい物理解析技術
저자
by
Satoshi HASHIMOTO
;
Tsuguo SAKURADA
;
橋本 哲
;
櫻田 委大
.
소스
表面技術 / Journal of The Surface Finishing Society of Japan. 2015, 66(12):562
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 . Academic Journal
Alternation of Ti 2p XPS Spectrum for TiO2 by Ar Ion Bombardment
저자
by
Aki Murata
;
Akihiro Tanaka
;
Satoshi Hashimoto
;
Tsuguo Sakurada
.
소스
Journal of Surface Analysis. 2002, 9(3):459
Open Access (JSTAGE)
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