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1 . Academic Journal
Alumina scale buckling during high temperature oxidation of Cr2AlC MAX Phase
저자
by
Zuber, A.
;
Parry, G.
;
Coupeau, C.
;
Renault, P.O.
;
Gauthier-Brunet, V.
, et al.
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In
Journal of the European Ceramic Society
December 2023 43(16):7334-7340
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7 . Academic Journal
Strain ratio and thickness effects on plasticity and crack patterns of Nickel thin films
저자
by
Godard, P.
;
Guillot, A.
;
Zighem, F.
;
Thiaudière, D.
;
Faurie, D.
, et al.
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In
Scripta Materialia
May 2022 213
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7 . Academic Journal
In situ electrical and mechanical study of Indium Tin Oxide films deposited on polyimide substrate by Xe ion beam sputtering
저자
by
Chommaux, T.
;
Renault, P.O.
;
Thiaudière, D.
;
Godard, P.
;
Paumier, F.
, et al.
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In
Thin Solid Films
1 January 2022 741
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7 . Academic Journal
Study of uniaxial deformation behavior of 50 nm-thick thin film of gold single crystal using in situ X-ray pole figure measurements
저자
by
Drieu La Rochelle, J.
;
Godard, P.
;
Mocuta, C.
;
Thiaudière, D.
;
Nicolai, J.
, et al.
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In
Surface & Coatings Technology
15 November 2019 377
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7 . Academic Journal
X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films
저자
by
Godard, P.
;
Faurie, D.
;
Sadat, T.
;
Drouet, M.
;
Thiaudière, D.
, et al.
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In
Acta Materialia
July 2019 173:87-95
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7 . Academic Journal
In situ Synchrotron X-Ray diffraction study of high-temperature stress relaxation in chromia scales containing the reactive element yttrium
저자
by
Rakotovao, F.
;
Panicaud, B.
;
Grosseau-Poussard, J.L.
;
Tao, Z.
;
Geandier, G.
, et al.
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In
Acta Materialia
15 October 2018 159:276-285
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7 . Academic Journal
Viscoplastic characteristics of thermally grown chromia films obtained from in situ 2D synchrotron X-ray diffraction
저자
by
Rakotovao, F.
;
Panicaud, B.
;
Grosseau-Poussard, J.L.
;
Tao, Z.
;
Geandier, G.
, et al.
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In
Journal of Alloys and Compounds
5 May 2018 744:591-599
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7 . Academic Journal
Continuous cyclic deformations of a Ni/W film studied by synchrotron X-ray diffraction
저자
by
Renault, P.O.
;
Sadat, T.
;
Godard, P.
;
He, W.
;
Guerin, Ph.
, et al.
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In
Surface & Coatings Technology
25 December 2017 332:351-357
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7 . Academic Journal
Measurement of applied strains in thin films deposited onto polymer by synchrotron X-ray diffraction
저자
by
Renault, P.O.
;
Djaziri, S.
;
Le Bourhis, E.
;
Goudeau, Ph.
;
Faurie, D.
, et al.
소스
In
Procedia Engineering
2011 10:2701-2706
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7 . Academic Journal
In situ thermal residual stress evolution in ultrathin ZnO and Ag films studied by synchrotron x-ray diffraction
저자
by
Renault, P.O.
;
Krauss, C.
;
Le Bourhis, E.
;
Geandier, G.
;
Benedetto, A.
, et al.
소스
In
Thin Solid Films
2011 520(5):1390-1394
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