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1 . Academic Journal
Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support
저자
by
Miroslav Valtr
;
Petr Klapetek
;
Jan Martinek
;
Ondřej Novotný
;
Zdeněk Jelínek
, et al.
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HardwareX, Vol 15, Iss , Pp e00451- (2023)
Full Text (ScienceDirect)
Full Text (ScienceDirect O/A)
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7 . Academic Journal
Mueller Matrix Ellipsometric Approach on the Imaging of Sub-Wavelength Nanostructures
저자
by
Tim Käseberg
;
Jana Grundmann
;
Thomas Siefke
;
Petr Klapetek
;
Miroslav Valtr
, et al.
소스
Frontiers in Physics, Vol 9 (2022)
Open Access (DOAJ)
Web of Science
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RefWorks
7 . Academic Journal
Nanometrology
저자
by
Petr Klapetek
.
소스
Nanomaterials, Vol 12, Iss 21, p 3755 (2022)
Open Access (DOAJ)
Web of Science
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3 . Academic Journal
Synthetic Data in Quantitative Scanning Probe Microscopy
저자
by
David Nečas
;
Petr Klapetek
.
소스
Nanomaterials, Vol 11, Iss 7, p 1746 (2021)
Open Access (DOAJ)
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RefWorks
4 . Academic Journal
Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy
저자
by
Josef Lazar
;
Petr Klapetek
;
Miroslav Valtr
;
Jan Hrabina
;
Zdenek Buchta
, et al.
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Sensors, Vol 14, Iss 1, Pp 877-886 (2014)
Open Access (DOAJ)
Web of Science
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RefWorks
7 . Academic Journal
Optical Properties of Oxidized Plasma-Polymerized Organosilicones and Their Correlation with Mechanical and Chemical Parameters
저자
by
Bozena Cechalova
;
Martin Branecky
;
Petr Klapetek
;
Vladimir Cech
.
소스
Materials, Vol 12, Iss 3, p 539 (2019)
Open Access (DOAJ)
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6 . Academic Journal
Complete Optical Characterization of Non-Uniform SiOx Thin Films Using Imaging Spectroscopic Reflectometry
저자
by
David Necas
;
Ivan Ohlídal
;
Miloslav Ohlídal
;
Petr Klapetek
.
소스
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 2009, 7:409
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 .
Local thermoelectric response from a single Néel domain wall
저자
by
Robert Puttock
;
Craig Barton
;
Elias Saugar
;
Petr Klapetek
;
Alexander Fernández-Scarioni
, et al.
소스
Science advances
. 8(47)
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
7 .
Optical characterization of inhomogeneous thin films with randomly rough boundaries exhibiting wide intervals of spatial frequencies
저자
by
Ivan Ohlídal
;
Jiří Vohánka
;
Vilma Buršíková
;
Jan Dvořák
;
Petr Klapetek
, et al.
소스
Optics express
. 30(21)
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
7 .
Optical method for determining the power spectral density function of randomly rough surfaces by simultaneous processing of spectroscopic reflectometry, variable-angle spectroscopic ellipsometry and angle-resolved scattering data
저자
by
Jiří Vohánka
;
Václav Šulc
;
Ivan Ohlídal
;
Miloslav Ohlídal
;
Petr Klapetek
.
소스
Optik
. 280:170775
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