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1 . Academic Journal
8pAE-10 Element dependence on the XPS spectra of defects in SiC : first principles calculation / 8pAE-10 第一原理計算によるSiC中XPSスペクトルの元素依存性(8pAE 格子欠陥(シミュレーション),領域10(構造物性(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)))
저자
by
Jun Yamauchi
;
Naoki Matsushima
;
山内 淳
;
松島 直輝
.
소스
Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2014, :696
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 . Academic Journal
22aCJ-3 First principles study on the relaxation effect of core level X-ray photoelectron spectroscopy for impurity defects in semiconductors / 22aCJ-3 半導体格子欠陥不純物の内殻準位X線光電子分光における緩和効果の第一原理的研究
저자
by
Jun Yamauchi
;
Naoki Matsushima
;
山内 淳
;
松島 直輝
.
소스
Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2015, :2724
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 . Academic Journal
27aAL-7 First principles XPS calculation for N defects in SiC / 27aAL-7 SiC中N欠陥の第一原理XPS計算(27aAL 格子欠陥・ナノ繕造(シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
저자
by
Jun Yamauchi
;
Naoki Matsushima
;
山内 淳
;
松島 直輝
.
소스
Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2014, :912
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 . Academic Journal
25aKA-7 SiC中不純物の第一原理XPS計算(格子欠陥・ナノ構造(シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)) / First principles XPS calculation for impurities in SiC
저자
by
Jun Yamauchi
;
Naoki Matsushima
;
山内 淳
;
松島 直輝
.
소스
Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2013, :838
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 . Academic Journal
27pXS-5 First principles XPS calculation for impurities in compound semiconductors / 27pXS-5 化合物半導体中不純物の第一原理XPS計算(27pXS 格子欠陥・ナノ構造(招待・理論・電子論・金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
저자
by
Jun Yamauchi
;
Naoki Matsushima
;
山内 淳
;
松島 直輝
.
소스
Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2013, :1035
Open Access (JSTAGE)
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RefWorks
6 . Academic Journal
Development and Future Vision of Multi Chip Package for Combination between Logic Device and Stacked Memories with through Silicon Via / Si貫通電極を用いた積層メモリ・ロジック混載モジュールの開発と将来展望
저자
by
Hiroyuki Tenmei
;
Nae Yoneda
;
Naoki Matsushima
;
Satoru Tsuchida
;
Yasuhiro Naka
, et al.
소스
エレクトロニクス実装学会誌 / Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging. 2009, 12(4):284
Scopus
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RefWorks
7 . Academic Journal
Development of Sn thin film solder structure for oxidation suppression / 酸化抑制構造を有するSn系薄膜はんだの開発
저자
by
Eiji Sakamoto
;
Hideaki Takemori
;
Kazuhiro Hirose
;
Naoki Matsushima
;
Shohei Hata
, et al.
소스
Proceedings of JIEP Annual Meeting. 2008, :171
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RefWorks
7 . Conference
First-principles core-level X-ray photoelectron spectroscopy calculation on arsenic defects in silicon crystal.
저자
by
Hiroki Kishi
;
Miki Miyazawa
;
Naoki Matsushima
;
Jun Yamauchi
.
소스
AIP Conference Proceedings
. 2014, Vol. 1583, p226-229. 4p. 1 Diagram, 1 Graph.
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RefWorks
6 .
First-principles X-ray photoelectron spectroscopy binding energy shift calculation for boron and aluminum defects in 3C-silicon carbide
저자
by
Jun Yamauchi
;
Naoki Matsushima
.
소스
Japanese Journal of Applied Physics
. 58:031001
Full Text (IOP)
Open Access (OpenAIRE)
Web of Science
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RefWorks
4 .
A 20 Gbps inductorless CMOS optical receiver for short-distance VCSEL-based 850 nm optical links
저자
by
Kenichi Ohhata
;
Toru Yazaki
;
Norio Chujo
;
Naoki Matsushima
;
Toshiaki Takai
.
소스
Analog Integrated Circuits and Signal Processing
. 78:43-51
Full Text (Springer)
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