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1 . Academic Journal
Cross-sectional nanoprobing sample preparation on sub-micron device with fast laser grooving technique
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by
Tan, P.K.
;
Zhao, Y.Z.
;
Rivai, F.
;
Liu, B.H.
;
Pan, Y.L.
, et al.
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Microelectronics Reliability
September 2018 88-90:309-314
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7 . Academic Journal
Failure analysis on 14 nm FinFET devices with ESD CDM failure
저자
by
Shaalini, C.
;
Tan, P.K.
;
Zhao, Y.Z.
;
Liu, B.H.
;
Ma, Y.Z.
, et al.
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Microelectronics Reliability
September 2018 88-90:321-333
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7 . Academic Journal
Failure analysis methodology on donut pattern failure due to photovoltaic electrochemical effect
저자
by
Neo, S.P.
;
Quah, A.C.T.
;
Ang, G.B.
;
Nagalingam, D.
;
Ma, H.H.
, et al.
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Microelectronics Reliability
September 2017 76-77:255-260
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7 . Academic Journal
Embed SRAM IDDOFF fail root cause identification by combination of device analysis and localized circuit analysis
저자
by
Chen, C.Q.
;
Ang, G.B.
;
Ng, P.T.
;
Rivai, Francis
;
Ng, H.P.
, et al.
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Microelectronics Reliability
September 2017 76-77:261-266
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7 . Academic Journal
Application of Scanning Capacitance Microscopy on SOI device with wafer edge low yield pattern
저자
by
Chen, C.Q.
;
Ang, G.B.
;
Ng, P.T.
;
Rivai, Francis
;
Neo, S.P.
, et al.
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Microelectronics Reliability
September 2017 76-77:141-144
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7 . Academic Journal
Static fault localization of subtle metallization defects using near infrared photon emission microscopy
저자
by
Quah, A.C.T.
;
Nagalingam, D.
;
Moon, S.
;
Susanto, E.
;
Ang, G.B.
, et al.
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Microelectronics Reliability
June 2017 73:76-91
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7 . Academic Journal
In-depth circuits edit analysis to reveal the implantation-related defect
저자
by
Chen, C.Q.
;
Ang, G.B.
;
Lam, Jeffrey
;
Mai, Z.H.
.
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Microelectronics Journal
April 2017 62:38-42
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6 . Academic Journal
Cross-sectional nanoprobing fault isolation technique on submicron devices
저자
by
Tan, P.K.
;
Yap, H.H.
;
Chen, C.Q.
;
Rivai, F.
;
Zhao, Y.Z.
, et al.
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Microelectronics Reliability
September 2016 64:321-325
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7 . Academic Journal
Electrical analysis on implantation-related defect by nanoprobing methodology
저자
by
Chen, C.Q.
;
Ng, P.T.
;
Ang, G.B.
;
T an, H.
;
Rivai, Francis
, et al.
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In
Microelectronics Reliability
September 2016 64:317-320
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7 . Academic Journal
Application of laser deprocessing technique in PFA on chemical over-etched on bond-pad issue
저자
by
Yap, H.H.
;
Tan, P.K.
;
Zhu, L.
;
Feng, H.
;
Zhao, Y.Z.
, et al.
소스
In
Microelectronics Reliability
September 2016 64:357-361
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