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1 . Academic Journal
Effect of contact-etch-stop-layer and Si1-xGex channel mechanical properties on nano-scaled short channel NMOSFETs with dummy gate arrays
저자
by
Lee, Chang-Chun
;
Liu, Chuan-Hsi
;
Li, Dian-Yong
;
Hsieh, Chia-Ping
.
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Microelectronics Reliability
April 2018 83:230-234
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6 . Academic Journal
Heat stress exposing performance of deep-nano HK/MG nMOSFETs using DPN or PDA treatment
저자
by
Wang, Shea-Jue
;
Wang, Mu-Chun
;
Chen, Shuang-Yuan
;
Lan, Wen-How
;
Yang, Bor-Wen
, et al.
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In
Microelectronics Reliability
November 2015 55(11):2203-2207
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7 . Academic Journal
Simulation-based sensitivity estimation of the geometric effect of poly gates on nanoscale n-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with silicon–carbon alloy
저자
by
Lee, Chang-Chun
;
Liu, Chuan-Hsi
;
Teng, Hsiao-Hsuan
.
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Thin Solid Films
3 November 2014 570 Part B:336-342
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RefWorks
5 . Academic Journal
Effects of extended poly gate on the performance of strained P-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with a narrow channel width
저자
by
Lee, Chang-Chun
;
Liu, Chuan-Hsi
;
Hsu, Hung-Wen
;
Hung, Min-Hui
.
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Thin Solid Films
30 April 2014 557:311-315
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6 . Academic Journal
Mechanical property effects of Si1 − xGex channel and stressed contact etching stop layer on nano-scaled n-type metal–oxide–semiconductor field effect transistors
저자
by
Lee, Chang-Chun
;
Cheng, Hsien-Chie
;
Hsu, Hung-Wen
;
Chen, Zih-Han
;
Teng, Hsiao-Hsuan
, et al.
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In
Thin Solid Films
30 April 2014 557:316-322
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7 . Academic Journal
Investigation of consequent process-induced stress for N-type metal oxide semiconductor field effect transistor with a sunken shallow trench isolation pattern
저자
by
Lee, Chang-Chun
;
Liu, Chuan-Hsi
;
Deng, Rong Hao
;
Hsu, Hung-Wen
;
Chiang, Kuo-Ning
.
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Thin Solid Films
30 April 2014 557:323-328
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7 . Academic Journal
Temperature-dependent current conduction of metal-ferroelectric (BiFeO3)-insulator (ZrO2)-Silicon capacitors for nonvolatile memory applications
저자
by
Juan, Pi-chun
;
Lin, Cheng-li
;
Liu, Chuan-hsi
;
Chen, Chun-heng
;
Chang, Yin-ku
, et al.
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In
Thin Solid Films
31 July 2013 539:360-364
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RefWorks
7 . Academic Journal
The effect of lanthanum (La) incorporation in ultra-thin ZrO 2 high-κ gate dielectrics
저자
by
Liu, Chuan-Hsi
;
Juan, Pi-Chun
;
Chou, Yi-Hsien
;
Hsu, Hung-Wen
.
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In
Microelectronic Engineering
2012 89:2-5
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6 . Academic Journal
Reliability characteristics of metal-oxide-semiconductor capacitors with 0.72 nm equivalent-oxide-thickness LaO/HfO 2 stacked gate dielectrics
저자
by
Liu, Chuan-Hsi
;
Hsu, Hung-Wen
;
Chen, Hung-Wen
;
Juan, Pi-Chun
;
Wang, Mu-Chun
, et al.
소스
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Microelectronic Engineering
2012 89:15-18
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RefWorks
7 . Academic Journal
Motion estimation using two-stage predictive search algorithms based on joint spatio-temporal correlation information
저자
by
Hsieh, Lili
;
Chen, Wen-Shiung
;
Liu, Chuan-Hsi
.
소스
In
Expert Systems With Applications
2011 38(9):11608-11623
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