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1 .
The NIST Vacuum Double-Crystal Spectrometer: A Tool for SI-Traceable Measurement of X-Ray Emission Spectra
저자
by
Csilla I. Szabo
;
James P. Cline
;
Albert Henins
;
Lawrence T. Hudson
;
Marcus H. Mendenhal
.
소스
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
. 126
Open Access (OpenAIRE)
Scopus
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RefWorks
7 .
Contemporary x-ray wavelength metrology and traceability
저자
by
James P. Cline
;
Albert Henins
;
Csilla I. Szabo
;
Lawrence T. Hudson
;
Marcus H. Mendenhall
.
소스
Radiat Phys Chem Oxf Engl 1993
Open Access (OpenAIRE)
Scopus
JCR 저널정보
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RefWorks
7 .
Absolute energies and emission line shapes of the L x-ray transitions of lanthanide metals
저자
by
Galen C. O'Neil
;
Daniel S. Swetz
;
Joseph W. Fowler
;
Douglas A. Bennett
;
Young Il Joe
, et al.
소스
Metrologia
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
7 .
High x-ray resolving power utilizing asymmetric diffraction from a quartz transmission crystal measured in the 6 keV to 22 keV energy range
저자
by
Lawrence T. Hudson
;
Eric Galtier
;
Albert Henins
;
Uri Feldman
;
J. F. Seely
.
소스
Appl Opt
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
7 .
Testing the Image Quality of Cabinet X-ray Systems for Security Screening: The Revised ASTM F792 Standard
저자
by
Ronald E. Tosh
;
Lawrence T. Hudson
;
Nicholas G. Paulter
;
Jack L. Glover
.
소스
Journal of testing and evaluation
. 46
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
6 .
The Molybdenum K-shell X-ray Emission Spectrum
저자
by
Csilla I. Szabo
;
Marcus H. Mendenhall
;
Lawrence T. Hudson
;
James P. Cline
;
Albert Henins
.
소스
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
7 .
Energetic electrons driven in the polarization direction of an intense laser beam incident normal to a solid target
저자
by
Gerald Williams
;
J. F. Seely
;
Lawrence T. Hudson
;
C.C. Kuranz
;
R. P. Drake
, et al.
소스
High Energy Density Physics
. 19:23-28
Open Access (OpenAIRE)
Web of Science
Scopus
JCR 저널정보
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RefWorks
7 .
A simple method for high-precision calibration of long-range errors in an angle encoder using an electronic nulling autocollimator
저자
by
Albert Henins
;
M. N. Kinnane
;
Lawrence T. Hudson
;
Marcus H. Mendenhall
.
소스
Metrologia
. 52:244-250
Full Text (IOP)
Web of Science
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JCR 저널정보
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RefWorks
6 .
The Metrology of a Rastered Spot of X Rays used in Security Screening
저자
by
Lawrence T. Hudson
;
Ronaldo Minniti
;
Jack L. Glover
.
소스
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
Open Access (OpenAIRE)
Web of Science
Scopus
JCR 저널정보
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RefWorks
5 .
The Lattice Spacing Variability of Intrinsic Float-Zone Silicon
저자
by
James P. Cline
;
Lawrence T. Hudson
;
Mark D. Vaudin
;
Ernest G. Kessler
;
Marcus H. Mendenhall
, et al.
소스
J Res Natl Inst Stand Technol
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