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1 . Academic Journal
Damage-free and atomically precise surface preparation of SrTiO3
저자
by
Kim, Yong Su
;
Yun, Dong Jin
;
Kim, Seong Heon
;
Kyoung, Yong Koo
;
Heo, Sung
.
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In
Current Applied Physics
November 2016 16(11):1464-1467
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7 . Academic Journal
Origin of positive Vth shift and mobility effects in amorphous GaInZnO thin films.
저자
by
Heo, Sung
;
Lee, Dongwha
;
Kyoung, Yong Koo
;
Kwon, Young-Nam
;
Kim, KiHong
, et al.
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Thin Solid Films
. Oct2016, Vol. 616, p456-460. 5p.
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RefWorks
7 . Academic Journal
Defect states in amorphous SiNx:H compounds using thermally stimulated exo-electron emission.
저자
by
Heo, Sung
;
Park, Hyoungsun
;
chung, JaeGwan
;
Lee, Hyung Ik
;
Park, Jucheol
, et al.
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Thin Solid Films
. Oct2016, Vol. 616, p850-855. 6p.
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7 . Periodical
Protective Oxide Coating for Ionic Conductive Solid Electrolyte Interphase
저자
by
Kim, Yong Su
;
Kim, Seong Heon
;
Kim, Gyusung
;
Heo, Sung
;
Mun, Jinsoo
, et al.
소스
ACS Applied Materials & Interfaces; November 2016, Vol. 8 Issue: 45 p30980-30984, 5p
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RefWorks
7 . Academic Journal
Electronic structures of SiO
2
thin films via Ar gas cluster ion beam sputtering.
저자
by
Kyoung, Yong Koo
;
Chung, Jae Gwan
;
Lee, Hyung Ik
;
Yun, Dong‐Jin
;
Lee, Jae Cheol
, et al.
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Surface & Interface Analysis: SIA
. Nov2014 Supplement, Vol. 46, p58-61. 4p.
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7 . Academic Journal
Topography and field effects in the inner side of microvia hole using ToF-SIMS.
저자
by
Lee, Jae Cheol
;
Kyoung, Yong Koo
;
Song, In Yong
;
Lee, Jae Woo
;
Shin, Young Sik
, et al.
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Surface & Interface Analysis: SIA
. Jul2014, Vol. 46 Issue 7, p429-432. 4p.
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RefWorks
7 . Academic Journal
Damage profiles of Si (001) surface via Ar cluster beam sputtering.
저자
by
Kyoung, Yong Koo
;
Lee, Hyung Ik
;
Chung, Jae Gwan
;
Heo, Sung
;
Lee, Jae Cheol
, et al.
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Surface & Interface Analysis: SIA
. Jan2013, Vol. 45 Issue 1, p150-153. 4p.
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RefWorks
7 . Academic Journal
Degradation by water vapor of hydrogenated amorphous silicon oxynitride films grown at low temperature
저자
by
Lee, Hyung-Ik
;
Park, Jong-Bong
;
Xianyu, Wenxu
;
Kim, Kihong
;
Chung, Jae Gwan
, et al.
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SCIENTIFIC REPORTS
; OCT 26 2017, 7 p14146 8p.
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RefWorks
7 . Academic Journal
Direct evidence of flat band voltage shift for TiN/LaO or ZrO/SiO2 stack structure via work function depth profiling
저자
by
Heo, Sung
;
Park, Hyoungsun
;
Ko, Dong-Su
;
Kim, Yong Su
;
Kyoung, Yong Koo
, et al.
소스
SCIENTIFIC REPORTS
; MAR 2 2017, 7 p43561 7p.
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RefWorks
7 . Academic Journal
Effective work function engineering for a TiN/XO(X = La, Zr, Al)/SiO2 stack structures
저자
by
Lee, Dongjin
;
Cho, Eunae
;
Lee, Jieun
;
Jung, Kyoungho
;
Jeong, Moonyoung
, et al.
소스
APPLIED PHYSICS LETTERS
; MAY 23 2016, 108 21, p212102 5p.
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