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1 . Academic Journal
Patient-specific assessment of hemodynamics by computational fluid dynamics in patients with bicuspid aortopathy
저자
by
Kimura, Naoyuki
;
Nakamura, Masanori
;
Komiya, Kenji
;
Nishi, Satoshi
;
Yamaguchi, Atsushi
, et al.
소스
In
The Journal of Thoracic and Cardiovascular Surgery
April 2017 153(4):S52-S62
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7 . Academic Journal
Physics-based model of quantum-mechanical wave function penetration into thin dielectric films for evaluating modern MOS capacitors
저자
by
Nakamori, Yasuhiko
;
Moriguchi, Kohei
;
Komiya, Kenji
;
Omura, Yasuhisa
.
소스
In
Solid State Electronics
2005 49(7):1118-1126
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6 . Conference
3D Particle image velocimetry using correlation image sensor
저자
by
Komiya, Kenji
;
Kurihara, Toru
;
Ando, Shigeru
.
소스
SICE Annual Conference 2011 SICE Annual Conference (SICE), 2011 Proceedings of. :2774-2778 Sep, 2011
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5 . Academic Journal
Spectroscopic analysis of stress-induced defects in thin silicon oxide films
저자
by
Komiya, Kenji
;
Omura, Yasuhisa
.
소스
In
Microelectronic Engineering
2001 59(1):61-65
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4 . Conference
Asymmetric AC electrophoresis with insulated electrodes: Toward positional control of microand nanoscale devices
저자
by
Shibata, Akihide
;
Komiya, Kenji
;
Watanabe, Keiji
;
Sato, Takuya
;
Shiomi, Takeshi
, et al.
소스
2013 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2013 IEEE International Meeting for. :132-133 Jun, 2013
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7 . Academic Journal
Spectroscopic characterization of stress-induced leakage current in sub 5-nm-thick silicon oxide film.
저자
by
Komiya, Kenji
;
Omura, Yasuhisa
.
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Journal of Applied Physics
. 9/1/2002, Vol. 92 Issue 5, p2593. 9p. 1 Black and White Photograph, 9 Graphs.
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4 . Academic Journal
Transport characteristics of posthard breakdown thin silicon oxide films and consideration of physical models.
저자
by
Omura, Yasuhisa
;
Komiya, Kenji
.
소스
Journal of Applied Physics
. 4/1/2002, Vol. 91 Issue 7, p4298. 9p. 2 Diagrams, 12 Graphs.
Full Text (AIP)
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4 . Academic Journal
Methods for computation of flow-driven string dynamics in a pump and residence time.
저자
by
Kanai, Taro
;
Takizawa, Kenji
;
Tezduyar, Tayfun E.
;
Komiya, Kenji
;
Kaneko, Masayuki
, et al.
소스
Mathematical Models & Methods in Applied Sciences
. May2019, Vol. 29 Issue 5, p839-870. 32p.
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7 . Book
12 - Hard Breakdown Characteristics in a 2.2-nm-thick SiO2 film
저자
by
Komiya, Kenji
;
Nagahara, Masahiro
;
Omura, Yasuhisa
.
소스
In
Rapid Thermal Processing for Future Semiconductor Devices
2003:93-98
Full Text (ScienceDirect)
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5 . Conference
Low-Frequency Current Fluctuations in Post-Hard Breakdown Thin Silicon Oxide Films.
저자
by
Omura, Yasuhisa
;
Komiya, Kenji
.
소스
AIP Conference Proceedings
. 2005, Vol. 780 Issue 1, p131-134. 4p.
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