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1 .
CFET SRAM DTCO, Interconnect Guideline, and Benchmark for CMOS Scaling
저자
by
Hsiao-Hsuan Liu
;
Shairfe M. Salahuddin
;
Boon Teik Chan
;
Pieter Schuddinck
;
Yang Xiang
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices
. 70:883-890
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 .
3D SRAM Macro Design in 3D Nanofabric Process Technology
저자
by
Dawit Burusie Abdi
;
Shairfe M. Salahuddin
;
Juergen Boemmels
;
Edouard Giacomin
;
Pieter Weckx
, et al.
소스
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
. :1-10
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 .
Evaluation of Nanosheet and Forksheet Width Modulation for Digital IC Design in the Sub-3-nm Era
저자
by
Giuliano Sisto
;
Odysseas Zografos
;
Bilal Chehab
;
Naveen Kakarla
;
Yang Xiang
, et al.
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IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
. 30:1497-1506
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 .
Cost analysis of device options and scaling boosters below the A14 technology node
저자
by
Gioele Mirabelli
;
Anne Vandooren
;
Cesar Roda Neve
;
Victor Vega Gonzalez
;
Hans Mertens
, et al.
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DTCO and Computational Patterning II
.
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RefWorks
7 .
System-level evaluation of 3D power delivery network at 2nm node
저자
by
Giuliano Sisto
;
Rongmei Chen
;
Dragomir Milojevic
;
Odysseas Zografos
;
Pieter Weckx
, et al.
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DTCO and Computational Patterning II
.
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RefWorks
7 .
Design-technology co-optimization overview of CFET architecture
저자
by
Gioele Mirabelli
;
Pieter Schuddinck
;
Hsiao-Hsuan Liu
;
Sheng Yang
;
Odysseas Zografos
, et al.
소스
DTCO and Computational Patterning II
.
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RefWorks
7 .
Physical design level PPA evaluation of buried power rail at 2nm node
저자
by
Giuliano Sisto
;
Odysseas Zografos
;
Pieter Weckx
;
Geert Hellings
;
Julien Ryckaert
.
소스
DTCO and Computational Patterning II
.
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RefWorks
7 .
A Holistic Evaluation of Buried Power Rails and Back-Side Power for Sub-5 nm Technology Nodes
저자
by
S. S. Teja Nibhanupudi
;
Divya Prasad
;
Shidhartha Das
;
Odysseas Zografos
;
Alex Robinson
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices
. 69:4453-4459
Full Text (IEEE)
Web of Science
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RefWorks
7 .
The Complementary FET (CFET) 6T-SRAM
저자
by
Pieter Weckx
;
Doyoung Jang
;
Bilal Chehab
;
Julien Ryckaert
;
Stefan Cosemans
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices
. 68:6106-6111
Full Text (IEEE)
Web of Science
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RefWorks
7 .
Stress in Silicon–Germanium Nanowires: Layout Dependence and Imperfect Source/Drain Epitaxial Stressors
저자
by
Geoffrey Pourtois
;
Julien Ryckaert
;
Andriy Hikavyy
;
Alessio Spessot
;
Geert Eneman
, et al.
소스
IEEE Transactions on Electron Devices
. 68:5380-5385
Full Text (IEEE)
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