IEEE transactions on instrumentation and measurement 68 (2019): 1165–1177. doi:10.1109/TIM.2018.2864445 info:cnr-pdr/source/autori:Donazzan, Alberto; Naletto, Giampiero; Belfi, Jacopo; Cuccato, Davide; Corso, Alain Jody; Di Virgilio, Angela; Ortolan, Antonello; Pelizzo, Maria Guglielmina/titolo:Characterization of a Nanometer Displacement Gauge for the Dimensional Control of Large Optomechanical Structures/doi:10.1109%2FTIM.2018.2864445/rivista:IEEE transactions on instrumentation and measurement/anno:2019/pagina_da:1165/pagina_a:1177/intervallo_pagine:1165–1177/volume:68