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1 . Report
Including Survivors in Probabilistic TID Failure Assessment
저자
by
Chloe A. Champagne
;
Brian D. Sierawski
;
Daniel M. Fleetwood
;
Raymond L. Ladbury
;
Michael J. Campola
.
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7 .
Low-Frequency and Random Telegraph Noise in 14-nm Bulk Si Charge-Trap Transistors
저자
by
Mariia Gorchichko
;
En Xia Zhang
;
Mahmud Reaz
;
Kan Li
;
Peng Fei Wang
, et al.
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IEEE Transactions on Electron Devices
. 70:3215-3222
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 .
Low-Frequency Noise and Border Traps in Irradiated nMOS and pMOS Bulk Si FinFETs With SiO2/HfO2 Gate Dielectrics
저자
by
Kan Li
;
Xuyi Luo
;
M. W. Rony
;
Mariia Gorchichko
;
Gaspard Hiblot
, et al.
소스
IEEE Transactions on Nuclear Science
. 70:442-448
Full Text (IEEE)
Web of Science
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RefWorks
7 .
Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in N-Type Carbon Nanotube Field-Effect Transistors With HfO₂ Gate Dielectrics
저자
by
Patrick K. Darmawi-Iskandar
;
Andrew M. Aaron
;
En Xia Zhang
;
Bharat L. Bhuva
;
Jeffery S. Kauppila
, et al.
소스
IEEE Transactions on Nuclear Science
. 70:449-455
Full Text (IEEE)
Web of Science
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RefWorks
7 .
Effects of Geometry and Cycling on the Radiation Response of Charge-Trapping NAND Memory Devices With SiON Tunneling Oxide
저자
by
Jingchen Cao
;
Isabella Wynocker
;
En Xia Zhang
;
Robert A. Reed
;
Michael L. Alles
, et al.
소스
IEEE Transactions on Nuclear Science
. 70:634-640
Full Text (IEEE)
Web of Science
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7 .
Total-Ionizing-Dose Effects on 3-D Sequentially Integrated FDSOI Ring Oscillators
저자
by
Shintaro Toguchi
;
En Xia Zhang
;
Daniel M. Fleetwood
;
Ronald D. Schrimpf
;
Stephane Moreau
, et al.
소스
IEEE Transactions on Nuclear Science
. 70:627-633
Full Text (IEEE)
Web of Science
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7 .
Negative Bias-Temperature Instabilities and Low-Frequency Noise in Ge FinFETs
저자
by
Xuyi Luo
;
En Xia Zhang
;
Peng Fei Wang
;
Kan Li
;
Dimitri Linten
, et al.
소스
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
. 23:153-161
Full Text (IEEE)
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RefWorks
7 .
Evaluating the Robustness of Complementary Channel Ferroelectric FETs Against Total Ionizing Dose Towards Radiation-Tolerant Embedded Nonvolatile Memory
저자
by
Kai Ni
;
Ronald D. Schrimpf
;
Daniel M. Fleetwood
;
enxia zhang
;
Hussam Amrouch
, et al.
소스
Open Access (OpenAIRE)
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RefWorks
7 .
Radiation Effects in AlGaN/GaN HEMTs
저자
by
Daniel M. Fleetwood
;
En Xia Zhang
;
Ronald D. Schrimpf
;
Sokrates T. Pantelides
.
소스
IEEE Transactions on Nuclear Science
. 69:1105-1119
Full Text (IEEE)
Web of Science
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RefWorks
6 .
Total-Ionizing-Dose Response of SiGe HBTs at Elevated Temperatures
저자
by
Delgermaa Nergui
;
Jeffrey W. Teng
;
Mozghan Hosseinzadeh
;
Yaw Mensah
;
Kan Li
, et al.
소스
IEEE Transactions on Nuclear Science
. 69:1079-1084
Full Text (IEEE)
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