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1 . Academic Journal
Wet etching of TiN in 1-D and 2-D confined nano-spaces of FinFET transistors
저자
by
Vereecke, Guy
;
De Coster, Hanne
;
Van Alphen, Senne
;
Carolan, Patrick
;
Bender, Hugo
, et al.
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In
Microelectronic Engineering
15 November 2018 200:56-61
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7 . Academic Journal
Evidences of areal switching in Vacancy-Modulated Conductive Oxide (VMCO) memory
저자
by
Celano, Umberto
;
Gastaldi, Carlotta
;
Govoreanu, Bogdan
;
Richard, Olivier
;
Bender, Hugo
, et al.
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In
Microelectronic Engineering
25 June 2017 178:122-124
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RefWorks
7 . Academic Journal
Stuffing-enabled surface confinement of silanes used as sealing agents on CF4 plasma-exposed 2.0 p-OSG films
저자
by
Sun, Yiting
;
Levrau, Elisabeth
;
Zhang, Liping
;
Geypen, Jef
;
Meersschaut, Johan
, et al.
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Microelectronic Engineering
2 April 2015 137:70-74
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RefWorks
7 . Academic Journal
Understanding device performance by incorporating 2D-carrier profiles from high resolution scanning spreading resistance microscopy into device simulations
저자
by
Nazir, Aftab
;
Eyben, Pierre
;
Clarysse, Trudo
;
Hellings, Geert
;
Schulze, Andreas
, et al.
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In
Solid State Electronics
August 2012 74:38-42
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RefWorks
7 . Academic Journal
Correlation between number of walls and diameter in multiwall carbon nanotubes grown by chemical vapor deposition
저자
by
Chiodarelli, Nicolò
;
Richard, Olivier
;
Bender, Hugo
;
Heyns, Marc
;
De Gendt, Stefan
, et al.
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In
Carbon
April 2012 50(5):1748-1752
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7 . Academic Journal
The implant-free quantum well field-effect transistor: Harnessing the power of heterostructures
저자
by
Hellings, Geert
;
Hikavyy, Andriy
;
Mitard, Jerome
;
Witters, Liesbeth
;
Benbakhti, Brahim
, et al.
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Thin Solid Films
1 February 2012 520(8):3326-3331
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7 . Academic Journal
Improved EOT and leakage current for metal–insulator–metal capacitor stacks with rutile TiO 2
저자
by
Popovici, Mihaela
;
Kim, Min-Soo
;
Tomida, Kazuyuki
;
Swerts, Johan
;
Tielens, Hilde
, et al.
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Microelectronic Engineering
2011 88(7):1517-1520
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RefWorks
7 . Academic Journal
Dielectric reliability of 70 nm pitch air-gap interconnect structures
저자
by
Pantouvaki, Marianna
;
Sebaai, Farid
;
Kellens, Kristof
;
Goossens, Danny
;
Vereecke, Bart
, et al.
소스
In
Microelectronic Engineering
2011 88(7):1618-1622
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RefWorks
7 . Report
HAADF-STEM block-scanning strategy for local measurement of strain at the nanoscale
저자
by
Prabhakara, Viveksharma
;
Jannis, Daen
;
Guzzinati, Giulio
;
Béché, Armand
;
Bender, Hugo
, et al.
소스
Ultramicroscopy, Volume 219, 2020, 113099, ISSN 0304-3991
Open Access (Arxiv)
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RefWorks
7 . Report
Strain measurement in semiconductor FinFET devices using a novel moir\'e demodulation technique
저자
by
Prabhakara, Viveksharma
;
Jannis, Daen
;
Béché, Armand
;
Bender, Hugo
;
Verbeeck, Johan
.
소스
Open Access (Arxiv)
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