Charged kaon mass measurement using the Cherenkov effect
- Resource Type
- Journal
- Authors
- Graf, N.; Lebedev, A.; Abrams, R. J.; Akgun, U.; Aydin, G.; Baker, W.; Barnes, P. D., Jr.; Bergfeld, T.; Beverly, L.; Bujak, A.; Carey, D.; Dukes, C.; Duru, F.; Feldman, G. J.; Godley, A.; Gulmez, E.; Gunaydin, Y. O.; Gustafson, H. R.; Gutay, L.; Hartouni, E.; Hanlet, P.; Hansen, S.; Heffner, M.; Johnstone, C.; Kaplan, D.; Kamaev, O.; Kilmer, J.; Klay, J.; Kostin, M.; Lange, D.; Ling, J.; Longo, M. J.; Lu, L. C.; Materniak, C.; Messier, M. D.; Meyer, H.; Miller, D. E.; Mishra, S. R.; Nelson, K.; Nigmanov, T.; Norman, A.; Onel, Y.; Paley, J. M.; Park, H. K.; Penzo, A.; Peterson, R. J.; Raja, R.; Rajaram, D.; Ratnikov, D.; Rosenfeld, C.; Rubin, H.; Seun, S.; Solomey, N.; Soltz, R.; Swallow, E.; Schmitt, R.; Subbarao, P.; Torun, Y.; Tope, T. E.; Wilson, K.; Wright, D.; Wu, K.
- Source
- NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT; MAR 21 2010, 615 1, p27-p32, 6p.
- Subject
- Language
- English
- ISSN
- 01689002