Measurement of [formula omitted] and determination of |Vcb|
- Resource Type
- Short Communication
- Authors
- Abe, K.; Abe, R.; Abe, T.; Adachi, I.; Ahn, Byoung Sup; Aihara, H.; Akatsu, M.; Asano, Y.; Aso, T.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Bakich, A.M.; Ban, Y.; Banas, E.; Behari, S.; Behera, P.K.; Bondar, A.; Bozek, A.; Browder, T.E.; Casey, B.C.K.; Chang, P.; Chao, Y.; Cheon, B.G.; Chistov, R.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Dong, L.Y.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Eiges, V.; Everton, C.W.; Fang, F.; Fujii, H.; Fukunaga, C.; Fukushima, M.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gershon, T.; Gordon, A.; Guo, R.; Haba, J.; Hamasaki, H.; Hanagaki, K.; Handa, F.; Hara, K.; Hara, T.; Hastings, N.C.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heenan, E.M.; Higuchi, I.; Higuchi, T.; Hojo, T.; Hokuue, T.; Hoshi, Y.; Hoshina, K.; Hou, S.R.; Hou, W.-S.; Hsu, S.-C.; Huang, H.-C.; Igarashi, Y.; Iijima, T.; Ikeda, H.; Ishikawa, A.; Ishino, H.; Itoh, R.; Iwasaki, H.; Iwasaki, Y.; Jackson, D.J.; Jalocha, P.; Jang, H.K.; Kang, J.H.; Kang, J.S.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Kawai, H.; Kawamura, N.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, D.W.; Kim, Heejong; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, Hyunwoo; Kim, S.K.; Kim, T.H.; Kinoshita, K.; Konishi, H.; Korpar, S.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, S.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lange, J.S.; Leder, G.; Lee, S.H.; Liventsev, D.; Lu, R.-S.; MacNaughton, J.; Matsubara, T.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Mikami, Y.; Miyabayashi, K.; Miyake, H.; Miyata, H.; Moloney, G.R.; Mori, S.; Mori, T.; Murakami, A.; Nagamine, T.; Nagasaka, Y.; Nagashima, Y.; Nakadaira, T.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nam, J.W.; Natkaniec, Z.; Neichi, K.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Noguchi, S.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okabe, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Palka, H.; Park, C.S.; Park, C.W.; Park, H.; Park, K.S.; Peak, L.S.; Perroud, J.-P.; Peters, M.; Piilonen, L.E.; Rodriguez, J.L.; Root, N.; Rozanska, M.; Rybicki, K.; Ryuko, J.; Sagawa, H.; Sakai, Y.; Sakamoto, H.; Satapathy, M.; Satpathy, A.; Schrenk, S.; Semenov, S.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; Singh, J.B.; Stanič, S.; Sugiyama, A.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, S.; Suzuki, S.Y.; Swain, S.K.; Takahashi, T.; Takasaki, F.; Takita, M.; Tamai, K.; Tamura, N.; Tanaka, J.; Tanaka, M.; Tanaka, Y.; Taylor, G.N.; Teramoto, Y.; Tomoto, M.; Tomura, T.; Tovey, S.N.; Trabelsi, K.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Uehara, S.; Ueno, K.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Varvell, K.E.; Wang, C.C.; Wang, C.H.; Wang, J.G.; Wang, M.-Z.; Watanabe, Y.; Won, E.; Yabsley, B.D.; Yamada, Y.; Yamaga, M.; Yamaguchi, A.; Yamamoto, H.; Yamashita, Y.; Yanaka, S.; Yashima, J.; Yokoyama, M.; Yoshida, K.; Yuan, Y.; Yusa, Y.; Zhang, C.C.; Zhang, J.; Zhao, H.W.; Zheng, Y.; Zhilich, V.; Žontar, D.
- Source
- In Physics Letters B 7 February 2002 526(3-4):258-268
- Subject
- Language
- ISSN
- 0370-2693