The D0 Silicon Microstrip Tracker
- Resource Type
- Article
- Authors
- Ahmed, S.N.; Angstadt, R.; Aoki, M.; Åsman, B.; Austin, S.; Bagby, L.; Barberis, E.; Baringer, P.; Bean, A.; Bischoff, A.; Blekman, F.; Bolton, T.A.; Boswell, C.; Bowden, M.; Browning, F.; Buchholz, D.; Burdin, S.; Butler, D.; Cease, H.; Choi, S.; Clark, A.R.; Clutter, J.; Cooper, A.; Cooper, W.E.; Corcoran, M.; de Jong, S.J.; Demarteau, M.; Demina, R.; Desai, S.; Derylo, G.; Ellison, J.; Ermolov, P.; Fagan, J.; Fast, J.; Filthaut, F.; Foglesong, J.; Fox, H.; Galea, C.F.; Gardner, J.; Genik, R.J., II; Gerber, C.E.; Gershtein, Y.; Gounder, K.; Grinstein, S.; Gu, W.; Gutierrez, P.; Haggerty, H.; Hall, R.E.; Hagopian, S.; Hance, R.; Harder, K.; Heger, P.; Heinson, A.P.; Heintz, U.; Hesketh, G.; Hover, D.; Howell, J.; Hrycyk, M.; Iashvili, I.; Johnson, M.; Jöstlein, H.; Juste, A.; Kahl, W.; Kajfasz, E.; Karmanov, D.; Kesisoglou, S.; Khanov, A.; King, J.; Kleinfelder, S.; Kowalski, J.; Krempetz, K.; Kubantsev, M.; Kulik, Y.; Landsberg, G.; Leflat, A.; Lehner, F.; Lipton, R.; Mao, H.S.; Martin, M.; Mateski, J.; Matulik, M.; McKenna, M.; Melnitchouk, A.; Merkin, M.; Mihalcea, D.; Milgrome, O.; Montgomery, H.E.; Moua, S.; Naumann, N.A.; Nomerotski, A.; Olis, D.; O’Neil, D.C.; Otero y Garzón, G.J.; Parua, N.; Pawlak, J.; Petteni, M.; Quinn, B.; Rapidis, P.A.; Ratzmann, P.; Rizatdinova, F.; Roco, M.; Rucinski, R.; Rykalin, V.; Schellman, H.; Schmitt, W.; Sellberg, G.; Serritella, C.; Shabalina, E.; Sidwell, R.A.; Simak, V.; Smith, E.; Squires, B.; Stanton, N.R.; Steinbrück, G.; Strandberg, J.; Strandberg, S.; Strauss, M.; Stredde, H.; Toukhtarov, A.; Tripathi, S.M.; Trippe, T.G.; Tsybychev, D.; Utes, M.; van Gemmeren, P.; Vaz, M.; Weber, M.; Wijngaarden, D.A.; Wish, J.; Womersley, J.; Yarema, R.; Ye, Z.; Zieminski, A.; Zimmerman, T.; Zverev, E.G.
- Source
- In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2011 634(1):8-46
- Subject
- Language
- ISSN
- 0168-9002