The effect of charge collection recovery in silicon p–n junction detectors irradiated by different particles
- Resource Type
- Article
- Authors
- Verbitskaya, E. ; Abreu, M.; Anbinderis, P.; Anbinderis, T.; D'Ambrosio, N.; de Boer, W.; Borchi, E.; Borer, K.; Bruzzi, M.; Buontempo, S.; Casagrande, L.; Chen, W.; Cindro, V.; Dezillie, B.; Dierlamm, A.; Eremin, V.; Gaubas, E.; Gorbatenko, V.; Granata, V.; Grigoriev, E.; Grohmann, S.; Hauler, F.; Heijne, E.; Heising, S.; Hempel, O.; Herzog, R.; Härkönen, J.; Ilyashenko, I.; Janos, S.; Jungermann, L.; Kalesinskas, V.; Kapturauskas, J.; Laiho, R.; Li, Z.; Mandic, I.; De Masi, Rita; Menichelli, D.; Mikuz, M.; Militaru, O.; Niinikoski, T.O.; O'Shea, V.; Pagano, S.; Palmieri, V.G.; Paul, S.; Perea Solano, B.; Piotrzkowski, K.; Pirollo, S.; Pretzl, K.; Rato Mendes, P.; Ruggiero, G.; Smith, K.; Sonderegger, P.; Sousa, P.; Tuominen, E.; Vaitkus, J.; da Viá, C.; Wobst, E.; Zavrtanik, M.
- Source
- In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 21 November 2003 514(1-3):47-61
- Subject
- Language
- ISSN
- 0168-9002