Relative abundance of heavy ions measured by the CREAM Silicon charge detector
- Resource Type
- Authors
- Park, N. H.; Ahn, H. S.; Allison, P.; Bagliesi, MARIA GRAZIA; Barbier, L.; Beatty, J. J.; Bigongiari, Gabriele; Brandt, T. J.; Childers, J. T.; Conklin, N. B.; Coutu, S.; Duvernois, M. A.; Ganel, O.; Han, J. H.; Jeon, J. A.; Kim, K. C.; Lee, M. H.; Maestro, Paolo; Malinine, A.; Marrocchesi, PIER SIMONE; Minnick, S.; Mognet, S. I.; Nam, S. W.; Nutter, S.; Park, I. H.; Seo, E. S.; Sina, R.; Walpole, P.; Wu, J.; Yang, J.; Yoon, Y. S.; Zei, Riccardo; Zinn, S. Y.
- Source
- Subject
- Language
- English