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1 . Academic Journal
Analysis of the transient dose rate effect on clock resources of JXCV5SX95T FPGA
저자
by
Guo, Yaxin
;
Peng, Zhigang
;
Li, Yang
;
Liu, Jiaxin
;
Li, Ning
, et al.
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Microelectronics Reliability
December 2023 151
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7 . Academic Journal
Application of displacement damage dose approach to low-energy proton irradiated GaInP/GaAs/Ge solar cells
저자
by
Song, Ci
;
Liu, Shuhuan
;
Wang, Xuan
;
Mu, Haibao
;
Bai, Yurong
, et al.
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In
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B
December 2023 545
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7 . Academic Journal
Influence of skew angle on the cavitation dynamics and induced low-frequency pressure fluctuations around a marine propeller
저자
by
Wang, Yongshuai
;
He, Chaohui
;
Wang, Xincheng
;
Cheng, Huaiyu
;
Ji, Bin
.
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In
Ocean Engineering
1 June 2023 277
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7 . Academic Journal
System-on-chip single event effect hardening design and validation using proton irradiation
저자
by
Yang, Weitao
;
Li, Yang
;
Guo, Gang
;
He, Chaohui
;
Wu, Longsheng
.
소스
In
Nuclear Engineering and Technology
March 2023 55(3):1015-1020
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7 . Academic Journal
Simulation analysis of electromagnetic pulse susceptibility and hardening design for system-in-package SZ0501
저자
by
Li, Ning
;
Li, Yang
;
Guo, Yaxin
;
He, Chaohui
.
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In
Microelectronics Reliability
February 2023 141
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6 . Academic Journal
Thermodynamic and kinetic synergetic separation of CO2/C2H2 in an ultramicroporous metal-organic framework
저자
by
He, Chaohui
;
Zhang, Peng
;
Wang, Yong
;
Zhang, Yujuan
;
Hu, Tuoping
, et al.
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In
Separation and Purification Technology
1 January 2023 304
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7 . Academic Journal
Advanced polymer-based electrolytes in zinc–air batteries
저자
by
Liu, Qingqing
;
Liu, Ruiting
;
He, Chaohui
;
Xia, Chenfeng
;
Guo, Wei
, et al.
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In
eScience
September 2022 2(5):453-466
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7 . Academic Journal
Fault injection and failure analysis on Xilinx 16 nm FinFET Ultrascale+ MPSoC
저자
by
Yang, Weitao
;
Li, Yonghong
;
He, Chaohui
.
소스
In
Nuclear Engineering and Technology
June 2022 54(6):2031-2036
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5 . Academic Journal
Vulnerability evaluation on 16 nm FinFET Ultrascale+ MPSoC using fault injection and proton irradiation
저자
by
Li, Yonghong
;
Yang, Weitao
;
Wang, Maocheng
;
Li, Yang
;
Guo, Yaxin
, et al.
소스
In
Microelectronics Reliability
June 2022 133
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7 . Academic Journal
Simulation of transient dose rate effect on analog phase locked loop
저자
by
Li, Yang
;
Guo, Yaxin
;
Liao, Wenlong
;
Liu, Jiaxin
;
Peng, Zhigang
, et al.
소스
In
Microelectronics Reliability
May 2022 132
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