Discriminant analysis and secondary-beam charge recognition
- Resource Type
- Article
- Authors
- Łukasik, J.; Adrich, P.; Aumann, T.; Bacri, C.O.; Barczyk, T.; Bassini, R.; Bianchin, S.; Boiano, C.; Botvina, A.S.; Boudard, A.; Brzychczyk, J.; Chbihi, A.; Cibor, J.; Czech, B.; Ducret, J.-É.; Emling, H.; Frankland, J.; Hellström, M.; Henzlova, D.; Immè, G.; Iori, I.; Johansson, H.; Kezzar, K.; Lafriakh, A.; Le Fèvre, A.; Le Gentil, E.; Leifels, Y.; Lühning, J.; Lynch, W.G.; Lynen, U.; Majka, Z.; Mocko, M.; Müller, W.F.J.; Mykulyak, A.; De Napoli, M.; Orth, H.; Otte, A.N.; Palit, R.; Pawłowski, P.; Pullia, A.; Raciti, G.; Rapisarda, E.; Sann, H.; Schwarz, C.; Sfienti, C.; Simon, H.; Sümmerer, K.; Trautmann, W.; Tsang, M.B.; Verde, G.; Volant, C.; Wallace, M.; Weick, H.; Wiechula, J.; Wieloch, A.; Zwiegliński, B.
- Source
- In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2008 587(2):413-419
- Subject
- Language
- ISSN
- 0168-9002