요약정보
Measurements of branching fractions and direct CP-violating asymmetries in $B^+ \to K^+ \pi^0$ and $\pi^+ \pi^0$ decays using 2019 and 2020 Belle II data
- Resource Type
- Authors
- Abudinén, F.; Adachi, I.; Adak, R.; Adamczyk, K.; Ahlburg, P.; Ahn, J.K.; Aihara, H.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Ameli, F.; Andricek, L.; Ky, N. Anh; Asner, D.M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Aushev, V.; Aziz, T.; Babu, V.; Bacher, S.; Baehr, S.; Bahinipati, S.; Bakich, A.M.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Bansal, S.; Barrett, M.; Batignani, G.; Baudot, J.; Beaulieu, A.; Becker, J.; Behera, P.K.; Bender, M.; Bennett, J.V.; Bernieri, E.; Bernlochner, F.U.; Bertemes, M.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Bilokin, S.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Braun, N.; Briere, R.A.; Browder, T.E.; Brown, D.N.; Budano, A.; Burmistrov, L.; Bussino, S.; Campajola, M.; Cao, L.; Caria, G.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Červenkov, D.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Cheaib, R.; Chekelian, V.; Chen, C.; Chen, Y.-C.; Cheon, B.G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H.-E.; Cho, K.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Corona, L.; Cremaldi, L.M.; Cuesta, D.; Cunliffe, S.; Czank, T.; Dash, N.; Dattola, F.; De La Cruz-Burelo, E.; De Nardo, G.; De Nuccio, M.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Deschamps, B.; Destefanis, M.; Dey, S.; De Yta-Hernandez, A.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Jiménez, I. Domínguez; Dong, T.V.; Dort, K.; Dossett, D.; Dubey, S.; Duell, S.; Dujany, G.; Eidelman, S.; Eliachevitch, M.; Epifanov, D.; Fast, J.E.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Finocchiaro, G.; Fiore, S.; Fischer, P.; Fodor, A.; Forti, F.; Frey, A.; Friedl, M.; Fulsom, B.G.; Gabriel, M.; Gabyshev, N.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Garmash, A.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gebauer, U.; Gelb, M.; Gellrich, A.; Gemmler, J.; Geßler, T.; Getzkow, D.; Giordano, R.; Giri, A.; Glazov, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Gomis, P.; Grace, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Guan, Y.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hara, K.; Hara, T.; Hartbrich, O.; Hauth, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hearty, C.; Heck, M.; Hedges, M.T.; de la Cruz, I. Heredia; Villanueva, M. Hernández; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E.C.; Hirata, H.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hollitt, S.; Hotta, T.; Hsu, C.-L.; Hu, Y.; Huang, K.; Iijima, T.; Inami, K.; Inguglia, G.; Jabbar, J. Irakkathil; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Iwata, S.; Jackson, P.; Jacobs, W.W.; Jaegle, I.; Jaffe, D.E.; Jang, E.-J.; Jeandron, M.; Jeon, H.B.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C.; Joo, K.K.; Kadenko, I.; Kahn, J.; Kakuno, H.; Kaliyar, A.B.; Kandra, J.; Kang, K.H.; Kapusta, P.; Karl, R.; Karyan, G.; Kato, Y.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Keck, T.; Ketter, C.; Kichimi, H.; Kiesling, C.; Kim, B.H.; Kim, C.-H.; Kim, D.Y.; Kim, H.J.; Kim, J.B.; Kim, K.-H.; Kim, S.-H.; Kim, Y.-K.; Kimmel, T.D.; Kindo, H.; Kinoshita, K.; Kirby, B.; Kleinwort, C.; Knysh, B.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Komarov, I.; Konno, T.; Korpar, S.; Kovalchuk, N.; Kraetzschmar, T.M.G.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krohn, J.F.; Krokovny, P.; Krüger, H.; Kuehn, W.; Kuhr, T.; Kumar, J.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kumita, T.; Kunigo, T.; Künzel, M.; Kurz, S.; Kuzmin, A.; Kvasnička, P.; Kwon, Y.-J.; Lacaprara, S.; Lai, Y.-T.; La Licata, C.; Lalwani, K.; Lanceri, L.; Lange, J.S.; Lautenbach, K.; Laycock, P.J.; Le Diberder, F.R.; Lee, I.-S.; Lee, S.C.; Leitl, P.; Levit, D.; Lewis, P.M.; Li, C.-H.; Li, L.K.; Li, S.X.; Li, Y.M.; Li, Y.B.; Libby, J.; Lieret, K.; Gioi, L. Li; Lin, J.; Liptak, Z.; Liu, Q.Y.; Liu, Z.A.; Liventsev, D.; Longo, S.; Loos, A.; Lu, P.; Lubej, M.; Lueck, T.; Luetticke, F.; Luo, T.; MacQueen, C.; Maeda, Y.; Maggiora, M.; Maity, S.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martini, A.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matsuoka, K.; Matvienko, D.; McNeil, J.; Meggendorfer, F.; Mei, J.C.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miller, C.; Miyabayashi, K.; Miyake, H.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Azmi, K.; Mohanty, G.B.; Moon, H.; Moon, T.; Grimaldo, J.A. Mora; Morda, A.; Morii, T.; Moser, H.-G.; Mrvar, M.; Mueller, F.; Müller, F.J.; Muller, Th.; Muroyama, G.; Murphy, C.; Mussa, R.; Nakagiri, K.; Nakamura, I.; Nakamura, K.R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakayama, H.; Nakazawa, H.; Nanut, T.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, M.; Nazaryan, G.; Neverov, D.; Niebuhr, C.; Niiyama, M.; Ninkovic, J.; Nisar, N.K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nishimura, M.; Nouxman, M.H.A.; Oberhof, B.; Ogawa, K.; Ogawa, S.; Olsen, S.L.; Onishchuk, Y.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Oxford, E.R.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Paladino, A.; Pang, T.; Panta, A.; Paoloni, E.; Pardi, S.; Park, C.; Park, H.; Park, S.-H.; Paschen, B.; Passeri, A.; Pathak, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T.K.; Peruzzi, I.; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Piccolo, M.; Piilonen, L.E.; Podesta-Lerma, P.L.M.; Polat, G.; Popov, V.; Praz, C.; Prencipe, E.; Prim, M.T.; Purohit, M.V.; Rad, N.; Rados, P.; Raiz, S.; Rasheed, R.; Reif, M.; Reiter, S.; Remnev, M.; Resmi, P.K.; Ripp-Baudot, I.; Ritter, M.; Ritzert, M.; Rizzo, G.; Rizzuto, L.B.; Robertson, S.H.; Pérez, D. Rodríguez; Roney, J.M.; Rosenfeld, C.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sanders, D.A.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sartori, P.; Sasaki, J.; Sato, Y.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schram, M.; Schreeck, H.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Schwenker, B.; Seddon, R.M.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Seong, I.S.; Serrano, J.; Sevior, M.E.; Sfienti, C.; Shebalin, V.; Shen, C.P.; Shibuya, H.; Shiu, J.-G.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J.B.; Skambraks, S.; Smith, K.; Sobie, R.J.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Soloviev, Y.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Starič, M.; Stefkova, S.; Stottler, Z.S.; Stroili, R.; Strube, J.; Stypula, J.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Summers, D.J.; Sutcliffe, W.; Suzuki, K.; Suzuki, S.Y.; Svidras, H.; Tabata, M.; Takahashi, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanaka, S.; Tanida, K.; Tanigawa, H.; Taniguchi, N.; Tao, Y.; Taras, P.; Tenchini, F.; Tonelli, D.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsuboyama, T.; Tsuzuki, N.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uehara, S.; Ueno, T.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Usov, Y.; Vahsen, S.E.; Van Tonder, R.; Varner, G.S.; Varvell, K.E.; Vinokurova, A.; Vitale, L.; Vorobyev, V.; Vossen, A.; Wach, B.; Waheed, E.; Wakeling, H.M.; Wan, K.; Abdullah, W. Wan; Wang, B.; Wang, C.H.; Wang, M.-Z.; Wang, X.L.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Watson, I.; Webb, J.; Wehle, S.; Welsch, M.; Wessel, C.; Wiechczynski, J.; Wieduwilt, P.; Windel, H.; Won, E.; Wu, L.J.; Xu, X.P.; Yabsley, B.; Yamada, S.; Yan, W.; Yang, S.B.; Ye, H.; Yelton, J.; Yeo, I.; Yin, J.H.; Yonenaga, M.; Yook, Y.M.; Yoshinobu, T.; Yuan, C.Z.; Yuan, G.; Yuan, W.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhang, J.Z.; Zhang, Y.; Zhang, Z.; Zhilich, V.; Zhou, Q.D.; Zhou, X.Y.; Zhukova, V.I.; Zhulanov, V.; Zupanc, A.
- Source
- Subject
Upsilon(10570): electroproduction detector: performance B+: branching ratio: measured BELLE electron positron: colliding beams electron positron: annihilation asymmetry: CP KEK-B [PHYS.HPHE]Physics [physics]/High Energy Physics - Phenomenology [hep-ph] B+: hadronic decay CP: violation [PHYS.HEXP]Physics [physics]/High Energy Physics - Experiment [hep-ex] B+ --> pi+ pi0 B+ --> K+ pi0 experimental results - Language
- English